工業顯微鏡IR紅外線攝影機｜半導體矽晶圓檢測
適用於半導體矽晶圓內部結構觀察與非破壞性檢測
可搭配工業顯微鏡及IR物鏡
提供清晰的紅外線影像，滿足半導體與精密材料檢測需求。
product description
Features
product specification
video introduction
SWIR短波紅外線攝影機採用高靈敏度InGaAs影像感測器，支援900–1700nm光譜範圍
具備640×512高解析度、全域快門及最高500fps高速影像擷取能力，可搭配工業顯微鏡進行精密檢測。
透過短波紅外線成像技術，能有效觀察矽晶圓內部結構及特定材料的隱藏特徵
適用於半導體晶圓檢測、太陽能電池、光電元件及工業非破壞性檢測。
支援Camera Link高速傳輸與ROI區域設定，滿足半導體製程、材料分析及自動化光學檢測需求。
產品應用領域 APPLICATIONS
- 近紅外線影像擷取（Near-Infrared Imaging）
- 隱蔽式監控與偵測（Covert Surveillance）
- 半導體與太陽能電池板檢測（Semiconductor / Solar Panel Inspection）
- 醫學研究與生物科學應用（Medical Science and Biology）
- 光纖通訊檢測（Fiberoptic Telecommunication）
- 霧氣與煙霧環境穿透成像（See Through Fog / Smoke）
- 冰層、融雪與水分分布檢測（Ice / Slush / Moisture Mapping）
- 工業熱影像檢測（Industrial Thermal Imaging）
- 天文觀測與科學研究（Astronomy and Scientific Research）
實際於矽晶圓內部結構拍攝
